1. 丝瓜app无限播放在线观看,丝瓜app无限播放最新版,丝瓜app无限放下载,丝瓜app无限观看安卓二维码

    产品目录

    联系方式

    北京丝瓜app无限播放在线观看科技有限公司
    联系人:鲁工 王工
    手机:13910937780,17600738803
    电话:010-69798892
    地址:北京市昌平区回龙观西大街115号龙冠大厦3层
    邮编:102208
    邮箱:17600738803@163.com

    产品中心

    ME-210-T膜厚测量仪

    • 型 号:
    • 访问次数:2205
    • 更新时间:2025-01-24
    • 价   格:

    ME-210-T膜厚测量仪为一种光学系膜厚测量装置,这个装置的特点是可以高精度测量1nm一下的极薄膜,也适合测量玻璃等透明基板上的薄膜。ME-210-T 活用了本公司*的偏光Senor 技术,将不能变为可能,以往的技术是无法测量0.5mm厚的玻璃基板,在这项技术下,可进行极薄膜的高精度测量,举例来说显示器用的ITO膜或配向膜的评估,也可运用ME-210-T轻松达成。

    分享到:

    ME-210-T膜厚测量仪适用透明基板的高速Mapping椭偏仪,可测量透明基板上的光阻膜及配向膜分布。

    椭偏仪为一种光学系膜厚测量装置,膜厚测量仪这个装置的特点是可以高精度测量1nm一下的极薄膜,也适合测量玻璃等透明基板上的薄膜。

    ME-210-T膜厚测量仪用了本公司*的偏光Senor 技术,将不能变为可能,以往的技术是无法测量0.5mm厚的玻璃基板,在这项技术下,可进行极薄膜的高精度测量,举例来说显示器用的ITO膜或配向膜的评估,也可运用ME-210-T轻松达成。

    ME-210-T的高精度膜厚分布资料,定会对先进的薄膜产品的生产有的用途。


    特点

    1,高效的测量速度(每分约1000点:)可短时间内取得高密度的面分布数据。

    2,微小领域量测(20un左右)可简单锁定&测量任一微小区域。


    3,可测量透明基板

    适用于解析玻璃基板上的极薄膜。


    测量实例

    涂布膜边缘扩大测量

    可阶段性扩大微小领域,然后获得详细的膜厚分布数据。

    GaAs Wafer 上酸化膜厚的分布测量

    缩小膜厚显示范围,膜厚差距不大的样品,也可以简单评估、比较其分布状况。


    设备参数

    项目

    规格

    光源

    半导体激光(636nm、class2)

    小测量领域

    广域模式:0.5mm×0.5mm

    高精细模式:5.5um×5.5um

    入射角

    70『deg』

    测量再现性

    膜厚:0.1nm 折射率:0.001     ※1

    大测量速度

    1000point/min(广域模式)

    5000point/min(高精密模式)

    载物台

    行程:XY200mm以上

    大移动速度:约40mm/scc

    尺寸/重量

    约650×650×1740mm(W×D×H)/约200kg

    电源

    AC100V

    备注

    ※1:此数值是以广域模式测量SiO2膜(膜厚约100mm)其中一点,重复测量100次后的标准偏差值




    留言框

    • 产品:

    • 您的单位:

    • 您的姓名:

    • 联系电话:

    • 常用邮箱:

    • 省份:

    • 详细地址:

    • 补充说明:

    • 验证码:

      请输入计算结果(填写阿拉伯数字),如:三加四=7
    上一篇 : PI-300/WPI-300偏振相机    下一篇 :  APCO精密划片机
    网站首页 公司简介 产品中心 招聘中心 技术支持 企业动态 联系丝瓜app无限播放在线观看 管理登陆
    北京丝瓜app无限播放在线观看科技有限公司专业提供膜厚测量仪等信息,欢迎来电咨询!
    GoogleSitemap ICP备案号:京ICP备37758828号-2 技术支持:化工仪器网
    联系方式
    • 联系人:鲁工
    售前咨询
    网站地图